當前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 晶圓缺陷檢測 >
產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category相關(guān)文章
Related ArticlesLODAS™ – CI8是列真株式會(huì )社推出的一款化合物半導體SiC、GaN晶圓檢查裝置。
UltraINSP晶圓表面缺陷檢測系統是表面缺陷檢測的蕞完善的國產(chǎn)化替代產(chǎn)品,系統包括四個(gè)模塊可以檢測所有晶圓表面并同步采集數據:晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測模塊;輪廓、量測和檢查模塊;
iFocus是一款用于晶圓外觀(guān)缺陷檢測設備,利用STI的2D/3D視覺(jué)檢測系統,采用雙2D Camera同時(shí)采集亮區和暗區照片分析特征缺陷;True 3D技術(shù),可以精確量測Bumping高度,Bumping共面性等特征??蛇m用于EWLB/CMOS/MEMS/LED/LENS/GLASS WAFER/GAS WAFER/COG等產(chǎn)品外觀(guān)檢測。
LODAS™ – LI系列是列真株式會(huì )社推出的一款FPD Photomask缺陷檢查裝置。
LODAS™ – BI12是列真株式會(huì )社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。
LODAS™ – BI8是列真株式會(huì )社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。
微信掃一掃